表面特性辨識探針

原子力顯微鏡升級版的奧秘-神奇探針

新型掃描模式讓原子力顯微鏡的功能大幅提升,可同時得到與形貌解析度相近的表面力學特性,如變形量、軟硬度、黏性等等。除此之外,在探針表面修飾不同的化學分子,讓AFM具有化學辨識特性,成為分子辨識力顯微鏡(Molecular Recognition Force Microscope, MRFM)。本研究室獨有的功能性探針修飾技術,可以辨識奈米尺度的親疏水性、電荷分布、沾黏特性、及官能基…等分子間的作用力分析。

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